動態干涉儀有別於基於傳統 Fizeau干涉儀的方法✘☁☁☁✘，採用位相檢測方法直接構建的動態干涉 儀既不需要移動待測元件多次曝光✘☁☁☁✘，也不需要採用偏振等複雜的光學手段✘☁☁☁✘，針 對待測元件進行一次測量即可獲得其反射面型或透過波差✘↟。
Kaleo-Multiwave多色動態干涉儀可用於光學元件面型檢測✘╃、透過波差測試✘╃、大型望遠鏡系統測試及實時調整等✘↟。大動態範圍像差測試能力使其可測平面 / 球面波而無需中繼鏡✘☁☁☁✘，無色差檢測能力允許使用多個波長甚至白光進行測試✘↟。Kaleo-Multiwave 集成了可切換波長的準直光源✘☁☁☁✘，可以對大口徑鏡片進行直接或對比測量✘↟。
注意事項·▩•╃│：
1✘╃、儀器應放置在乾燥✘╃、清潔以及無振動的環境中應用✘↟。
2✘╃、在移動儀器時✘☁☁☁✘，為防止導軌變形✘☁☁☁✘，應托住底座再進行移動✘↟。
3✘╃、儀器的光學零件在不用時✘☁☁☁✘，應在清潔乾燥的器皿中進行存放✘☁☁☁✘，以防止發黴✘↟。
4✘╃、儘量不要去擦拭儀器的反光鏡✘╃、分光鏡等✘☁☁☁✘，如必須擦拭則應當小心擦拭✘☁☁☁✘，利用科學的方法進行清潔✘↟。
5✘╃、導軌✘╃、絲桿✘╃、螺母與軸孔部分等傳動部件✘☁☁☁✘，應當保持良好的潤滑✘↟。因此必要時要使用精密儀表油潤滑✘↟。
6✘╃、在使用時應避免強旋✘╃、硬扳等情況✘☁☁☁✘，合理恰當的調整部件✘↟。
7✘╃、避免劃傷或腐蝕導軌面絲桿✘☁☁☁✘，保持其不失油✘↟。
