稜鏡耦合測試儀測量原理及應用領域

　　

　　測量原理╃◕✘╃☁：

　　待測樣品透過一個空氣作用的耦合探頭與稜鏡基座接觸☁☁₪·☁，在薄膜與稜鏡之間產生一個空氣狹縫✘▩╃。一束鐳射光束照射到稜鏡基座上☁☁₪·☁，通常會在基座上全反射進入光電探測器✘▩╃。在某一些入射角☁☁₪·☁，稱為模式角☁☁₪·☁，光子向下穿過空氣狹縫進入薄膜☁☁₪·☁，進入一種被引導的光傳播模式☁☁₪·☁，使到達探測器的光強度大幅降低✘▩╃。

　　稜鏡鏡片的厚薄差較大☁☁₪·☁，在焦度計上打點和檢測時需將稜鏡jian端稍抬起☁☁₪·☁，使鏡片的前表面處於水平位置☁☁₪·☁，因為稜鏡鏡片在磨邊裝配過程中✘▩╃。考慮到美觀等因素☁☁₪·☁，尖邊位置往往在厚端的靠外處☁☁₪·☁，也就是說鏡片的外表面比裡面更接近於水平線☁☁₪·☁，因而在鏡片的視軸也更接近於外表面的光軸☁☁₪·☁，而不是裡表面的光軸☁☁₪·☁，所以這個方向的度數應是實際有效距離☁☁₪·☁，也就是說☁☁₪·☁，焦距在這個方向的測量值為實際有效距離✘▩╃。

　　

　　該儀器可測量薄膜/基底的型別☁☁₪·☁，矽襯底上幾乎任何透明或半透明材料的氧化物•◕↟◕▩、氮化物•◕↟◕▩、介質•◕↟◕▩、聚合物或薄膜✘▩╃。可測量的薄膜/襯底型別╃◕✘╃☁：氧化物•◕↟◕▩、氮化物•◕↟◕▩、介電材料•◕↟◕▩、聚合物•◕↟◕▩、或矽襯底上幾乎任何透明或半透明材料的薄膜✘▩╃。

　　

　　稜鏡耦合測試儀主要應用領域╃◕✘╃☁：

　　1•◕↟◕▩、光波導器件；

　　2•◕↟◕▩、鐳射晶體材料；

　　3•◕↟◕▩、聚合物材料；

　　4•◕↟◕▩、顯示技術材料；

　　5•◕↟◕▩、光/磁儲存材料；

　　6•◕↟◕▩、光學薄膜✘▩╃。