OLED顯示模組壽命測試系統 平鋪式模組壽命可搭載亮度計直接量測發光膜組的真實數值╃☁₪☁，在研發和過程資料評判工作中╃☁₪☁，可起到重要作用▩◕╃。

OLED/QLED 發光器件壽命測試系統 通道數量·╃▩：32↟☁、64↟☁、128╃☁₪☁，可擴充套件到512 路；測量模式1·╃▩：恆流↟☁、恆壓↟☁、恆亮度╃☁₪☁，需根據客戶需求選定

在本文中╃☁₪☁，我們將描述如何在全自動測試系統中使用影像亮度色度計╃☁₪☁，在高速度↟☁、大批次的生產環境中識別和量化缺陷▩◕╃。本文內容涵蓋測試設定╃☁₪☁，以及可以執行的測試範圍 – 從簡單的點缺陷檢測到複雜的 Mura檢測和評估▩◕╃。